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 激光平面干涉仪 PG15-J              欢迎致电:021-50936266 
 

     激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器,主要用于精密测量光学平面度。

 

  一、用 途:
    PG15-J型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器,主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源(波长为6328A)。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。

    PG15-J型激光平面干涉仪工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如配购相关的必要附件,可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性,光学镀膜面或金属块规表面的平面度,90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。

   二、
   PG15-J型激光平面干涉仪工作基于双光束等厚干涉原理。

PG15-J

    根据近代光学的研究结果,光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的
  波动性的特性。
   三、主要技术参数:
1、第一标准平面(A面),不镀膜。 工作直径:D1=Φ146mm
                        不平度小于0.02μm(λ/30)。
2、第二标准平面(B面),不镀膜。 工作直径:D2=Φ140mm
                        不平度小于0.03μm(λ/20)。
3、准直系统:孔径F/2.8, 工作直径:D1=Φ146mm
                       焦距:f=400mm.
4、测微目镜:焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X,视场角2w=40o
            成像物镜:I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10
                f=16     f=23     f=37
5、干涉室尺寸:深260*宽300*190mm。
6、光源规格:激光ZN18(He-Ne)。
7、仪器的外形尺寸:长*宽*高 350*400*720mm。
8、仪器重量:100公斤。 
       产品的技术参数随技术的发展会有所更新,欢迎咨询。
   
 

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