|
扫描干涉显微镜 ZNA-W1510
白光干涉仪
欢迎致电:021-50936266 |
|
 非接触扫描干涉显微镜 |
|
|
一、用途: |
|

纳米显微镜-纳米测高仪 |
扫描干涉显微镜是利用
光的干涉现象来测量精密加工零件表面三维形 |
| 貌的仪器。高度方向(Z轴)的分辨率达0.1nm(纳米),属纳米级测量显微 |
| 镜,又被称为纳米显微镜,三维形貌测量显微镜,白光干涉仪。 |
|
通过计算机的软件处理后,可获得被测物表面的精细结构,因此可用于 |
| 微小零件的精密测量。如光学微元件、集成电路刻线、膜层厚度、表面光洁 |
| 度等。该仪器采用可见白光光源,避免了激光对人眼的危险性和对被测物的 |
| 损害。对加工纹路混乱的表面及低反射率的工件表面也能进行测量。而且, |
| 采用非接触测量和面扫描,避免了扫描隧道显微镜的许多缺陷。 |
| 扫描干涉显微镜特点:纳米级高度三维测量,非接触高速度面扫描,表 |
|
面形状的二维几何测量及三维体积测量,透明/非透明物体表面都可测量。 |
| 扫描干涉显微镜适用于电子、光学、精密加工等企业做精密测量工具, |
|
也适用于高等院校、科研单位做科学实验仪器。
|
| |
|
白光干涉仪-纳米显微镜 |
二、主要技术规格: |
|

白光干涉物镜
ZNA-objective |
| 干涉物镜 |
10X |
20X(选购) |
50X(选购) |
| 测量范围(直径) |
0.5mm |
0.25mm |
0.1mm |
| 垂直扫描测量范围 |
100μm (选购:400μm) |
| 垂直扫描分辨率 |
0.1 nm |
| 扫描速度 |
12μm/s |
| 工作台升程(Z轴) |
80mm |
| X、Y方向移动范围 |
150x100mm |
| 位置数字显示 |
X、Y、Z三轴数字显示(分辨率:1μm) |
|
|
光导线截面高度测量 |
|
三、仪器配置: |
|
1、仪器主体
1台 |
|
2、10X干涉物镜
1只 |
|
3、垂直扫描控制器 1件
(100μm) |
|
4、光纤冷光源
1件 |
|
5、防震平台
1件 |
|
6、图像处理软件ImgScan 1套 |
|
7、图像分析软件PostTopo 1套 |
|
8、计算机
1台(含图像卡及2台显示器) |
|
四、选购件: |
|
垂直扫描控制器(400μm),20X/50X干涉物镜,标准高度规。 |
|
|
|
产品的规格参数随技术的发展会有所更新,欢迎咨询。 |
|
|
|