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显微镜首页 |
| 物理光学仪器 -->> 光学膜层测厚仪 ZST-2000 欢迎致电：021-50936266 | |
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一、光学膜层测厚仪主要用途 |
| 光学膜层测厚仪 基于反射光相干原理测量膜层厚度，应用于测定 | |
| 光学镜片镀膜层厚度、LCD、硅晶片等。是光学仪器厂及有关科研单位、 | |
| 高等院校、电子芯片企业常用仪器。 | |
| 光学膜层测厚仪ZST-2000 采用目测瞄准，实时光谱分析测量软件， | |
| 测速快，使用方便，操作简单。 | |
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光学膜层测厚仪 ZST-2000 |
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二、光学膜层测厚仪技术参数 |
| 测量范围： 200Å~ 35㎛ (Depends on Film Type) | |
| 测量速度： 1 sec/site Typically | |
| 光学放大倍数：40× ~ 500× | |
| 测量谱线波长：400 ~ 859nm | |
| ( 随技术和工艺的发展，产品的技术规格会有所改变，欢迎来电咨询。) | |
| http://www.zousun.com 欢迎致电：021-50936266 | |
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营销部地址：上海市浦东大道1476号山海大厦
电话：021-50936266，58600897 传真：021-50934686
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